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產(chǎn)品中心

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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心實驗室儀器設(shè)備數(shù)碼型熔點測定儀XPH-300D

數(shù)碼型熔點測定儀XPH-300D

產(chǎn)品簡介

數(shù)碼型熔點測定儀XPH-300D
一、用途
XPH-300系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導(dǎo)體工業(yè)檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)Z常用的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化

廠商性質(zhì):代理商
更新時間:2015-06-24
瀏覽次數(shù):418
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數(shù)碼型熔點測定儀XPH-300D
一、用途
    XPH-300系列偏光熔點測定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導(dǎo)體工業(yè)檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)常用的專業(yè)實驗儀器。偏光熔點測定儀可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測,有自動P、I、D調(diào)節(jié),及模糊手動調(diào)節(jié)功能,偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值,儀表顯示準(zhǔn)確、清晰、穩(wěn)定,對溫度控制可設(shè)定程序,設(shè)有“上、下"限自動報警裝置,并可隨時檢查設(shè)定的溫度數(shù)據(jù),是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。偏光顯微鏡熱臺具有可擴(kuò)展性,可以接計算機(jī)和數(shù)碼相機(jī),對圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。偏光熔點測定儀是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。
數(shù)碼型熔點測定儀XPH-300D
二、技術(shù)參數(shù):
1.目鏡:


類  別

放大倍數(shù)

視場(mm)

網(wǎng)格目鏡

10X

φ18

十字目鏡

10X

φ18

分劃目鏡

10X

φ18

2.物鏡:

類  別

放大倍數(shù)

數(shù)值孔徑(NA)

工作距離(mm)

蓋玻片厚度(mm)

物 鏡

4X

0.10

7.80

-

10X

0.25

4.70

-

25X

0.40

1.75

0.17

40X

0.65

0.72

0.17

63X

0.85

0.18

0.17

 
3.放大倍數(shù):40X-630X    系統(tǒng)放大倍數(shù):40X-2600X。
4.聚光鏡數(shù)值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調(diào)
5.起偏鏡:振動方向360°可調(diào),帶鎖緊裝置,可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡,中心、焦距可調(diào)
7.補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm)λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng):帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微調(diào),格值為0.002mm
9.電光源:6V/20W鹵素?zé)簦炼瓤烧{(diào))

 三、系統(tǒng)簡介
偏光熔點測定儀系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、*的計算機(jī)圖像處理技術(shù)*地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像,并能將所需要的圖片進(jìn)行編輯、保存和打印。
 
四、熱臺:
1.顯微精密控溫儀:在 20X 物鏡下工作溫度可達(dá)到高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制;溫度程序段由用戶自行設(shè)定,30段溫度編程,循環(huán)操作,能準(zhǔn)確反映設(shè)定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設(shè)定起始溫度,及在該段內(nèi)可維持時間,升溫速率可調(diào)、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
  2.顯微加熱平臺:可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調(diào)、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1,起始溫度室溫,工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm,工作區(qū)溫度梯度不超過 ± 0.1oC,透光區(qū)域 2mm以上,可調(diào),顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2,熱臺可以隨載物臺移動,熔點測定 溫度超過100度時,25X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
 
五、系統(tǒng)組成
電腦型偏光熔點測定儀(XPH-300E):1、偏光顯微鏡 2、熱臺3、適配鏡 4、攝像器(CCD) 5、A/D(圖像采集) 6、驅(qū)動軟件 7、數(shù)據(jù)線 8、計算機(jī)(選配)
 數(shù)碼型偏光熔點測定儀(XPH-300D):1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數(shù)碼相機(jī)光學(xué)轉(zhuǎn)接口 4、數(shù)碼相機(jī) 
 
六、選購件
1、高像素成像系統(tǒng)      2.偏光顯微鏡分析軟件

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